Новые разработки JANIS за последний год
| Специальная модель криостата на растворении Гелия-3 в Гелии-4 с предварительной ступенью охлаждения на пульсационной трубе JDry-100-ASTRA. |  |
| Криостат будет установлен в университете Тренто и предназначен для захолаживания и тестирования матрицы резонансных болометров для исследования поляризации реликтового космического излучения. Криостат может работать в широком
nдиапазоне углов наклона (от 20o до 53o) и обеспечивает холодопроизводительность 120 мВт при Т=100 мК и захолаживается до предельной Т=15 мК всего за 40 часов. |
|
| Новое поколение криостатов на сорбции паров Гелия-3 с предварительным захолаживанием при помощи криорефрижератора (без использования жидкого гелия) HE-3-SSV-PT-2. |  |
| Новый, оптимизированный криостат обеспечивает непрерывную работу в течение 115 часов при температуре ниже 300 мК. Это 100% увеличение времени криостатирования по сравнению с предыдущим поколением криостатов этого типа при том же количестве Гелия-3 в субкельвиновой ступени. | |
| Новая полностью автоматическая система газового контроля для криостатов на растворении Гелия-3 в Гелии-4 серии JDry (c предварительной ступенью захолаживания на замкнутом цикле). |  |
| Система оснащена сенсорной панелью, портами для соединения с ЭВМ и средствами измерения температуры и с ее помощью контролируется работа ступени растворении, вакуумного насоса и ступени предварительного захолаживания. | |
| Станция с микроманипуляторами для электрических измерений на образцах, оснащенная СП%магнитом 3Т. |  |
| Станция захолаживается жидким гелием, может быть оснащена 6-ю XYZ-микро-манипуляторами для низкочастотных или высокочастотных измерений в полях от 0 до 3Т. | |
| Станция с микроманипуляторами для электрических измерений на образцах, оснащенная горизонтальным резистивным магнитом с полем до 0.6Т. |  |
| Станция захолаживается жидким гелием, может быть оснащена 4-мя XYZ-микро-манипуляторами для низкочастотных или высокочастотных измерений в полях от 0 до 0.6Т. Диапазон по температуре — от 3К до 475К. Уровень вибраций на образце не превышает 25 нм. |
